構造規制Ptナノ微粒子溶解のリアルタイム高速AFM観測： 電位走査に対する安定性の表面構造依存性

抄録

酸性下において電位サイクルによる立方体，立方八面体および正四面体型Ptナノ微粒子の溶解を高速AFM観測した。電位走査範囲の上限を1.6 V_RHEに固定し，下限を0.05～0.7 V_RHEの間で変化させ溶解速度の違いを調べた。溶解が見られる下限電位は立方八面体＜正四面体≒立方体であった。溶解時の溶解速度は正四面体＜立方八面体＜立方体であった。この結果は微粒子の稜および面の安定性により説明できる。