主催: 日本表面科学会
成蹊大理工
愛教大物理
電通大院先進理工
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原子間力顕微鏡(AFM)の探針には主にシリコン素材が用いられるが、表面微細構造の観察には高アスペクト比のカーボンナノチューブ(CNT)探針を用いるのが望ましい。本研究ではCNT探針をCNT試料上でラスタ走査させ、探針-試料間の相互作用力を計算して、CNTのAFM像のシミュレーションを行った。得られた原子スケール像は、CNT試料のカイラル数に対応した格子パターンを反映して変化することが分かった。
表面科学講演大会講演要旨集
日本表面真空学会学術講演会要旨集
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