電気関係学会東北支部連合大会講演論文集
セッションID: 2A13
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主催: IEEE SENDAI SECTION

座長：清水　博文（日本大学）
Evaluation technique of SONOS type MOS diode for future nonvolatile memory
*伊賀 文崇, 遠藤 哲郎
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© 2008 Organizing Committee of Tohoku-Section Joint Convention of Institutes of Electrical and Information Engineers, Japan
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