電気関係学会東北支部連合大会講演論文集
セッションID: 1A06
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主催: IEEE SENDAI SECTION

座長：大野　裕三(東北大学)
New Phenomena in the Dependency of 1/f Noise Characteristics on Temperature for SiON/Poly-Si Gate N-type MOSFET
*今本 拓也, 佐々木 健志, 遠藤 哲郎
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© 2010 Organizing Committee of Tohoku-Section Joint Convention of Institutes of Electrical and Information Engineers, Japan
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