低出力なX線源（4ワット，タングステンターゲット）を用いてコンパクトな偏光蛍光X線装置を試作し，ステンレス鋼材の測定を行った．偏光子にはアクリルを使用し，Compton散乱によって偏光させた白色X線を励起光として利用した．2次元光学系のスペクトルと比較すると，励起光のタングステンLα線がCompton散乱でニッケルK吸収端の低エネルギー側にシフトすることで，3次元光学系におけるNi Kαピークの強度が減少することを確認した．
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