バイアスベクトルの上下限値を拘束条件として与え,従来のRAIMから定式化した非線形最適化問題を1回のみ解いて保護レベルを計算する手法を考案した.本手法では,異常と想定する観測量の数に制約がなく,かつ,一般のRAIMやARAIMで問題となる,異常モード数の増加に伴う組合せ的な計算負荷の増大,を避けることができる.またバイアスベクトルの上下限値は,3GPPやRTCMで規格化検討中のインテグリティ補助情報の一部としても利用できると考えられる.
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