ビーム状DT中性子を用いた荷電粒子放出二重微分断面積の測定（２）

抄録

原研FNSのビーム状DT中性子源とE-ΔEカウンターテレスコープを用いた荷電粒子スペクトロメータによるプロトン、デュートロン、トリトン放出二重微分断面積の測定手法を構築した。これら３同位体の弁別とバックグラウンドの除去のため実験条件の最適化を行った。構築した手法によりフッ素の荷電粒子放出二重微分断面積の測定を行った。