陽電子消滅法を用いた高分子電解質膜の構造解析

抄録

前回の発表において，高分子電解質膜における官能基の導入率変化と陽電子寿命測定におけるオルソポジトロニウムの消滅寿命の関係について，発表を行った．今回はこのデータに，含水率測定の結果，及びプロトン伝導率測定の結果を交え発表を行う。