日本原子力学会　年会・大会予稿集
2008年秋の大会
セッションID: B01
会議情報
中高エネルギーの核データ測定
炭素に対する175MeV中性子入射軽イオン生成反応（III）
林 真照, *渡辺 幸信, 渡邊 健人, Bevilacqua Riccardo, Blomgren Jan, Nilsson Leif, Öghm Angelica, Öringsterlund Michael, Pomp Stephan, Prokofiev Alexander, Simutkin Vasily, Söderström Pär-Anders, Tippawan Udomrat
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キーワード: 高エネルギー中性子, TSL準単色中性子源施設, 軽イオン生成, ２重微分断面積, PHITS
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抄録
スウェーデン・ウプサラ大学ＴＳＬ準単色中性子源施設を利用して、炭素に対する175MeV準単色中性子入射軽イオン生成反応二重微分断面積を測定し、得られた放出陽子スペクトルをPHITSコード計算と比較した。
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© 2008 一般社団法人 日本原子力学会
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