日本原子力学会 年会・大会予稿集
2012年秋の大会
セッションID: C34
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ヘキサシアノ鉄酸銅錯体ナノ粒子を用いた電気化学的セシウム吸脱着条件の検討
(2)セシウム吸着pHの依存性と吸着メカニズムの検討
*陳 栄志田中 寿浅井 幸福島 千賀子川本 徹栗原 正人有阪 真南川 卓也渡邉 雅之
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会議録・要旨集 認証あり

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抄録
ヘキサシアノ鉄酸銅錯体は電気化学的に酸化還元することで、セシウムを繰り返し吸着脱離することができる材料である。これをナノ粒子化したインクを用いて金属電極上に製膜した薄膜電極を開発した。その薄膜電極の耐酸性と電気化学的セシウム吸着メカニズムについて報告する。
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© 2012 一般社団法人 日本原子力学会
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