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参照強度比を基準にする粉末X線回折/Rietveld解析によるセメント中の非晶質相の定量
2019 年 68 巻 8 号 p. 609-614
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2019 年 68 巻 8 号 p. 609-614
参照強度比（RIR）を基準に用いたX線回折法/Rietveld解析で，セメント中の非晶質の定量分析を試みた．RIRを基準にしたRietveld解析による定量は標準試料を必要としないスタンダードレスな方法であるが，非晶質の定量に応用した例はほとんど見ない．非晶質相のRIR値は存在しないので，分析対象の非晶質のRIR値を決定する必要があった．セメント中の非晶成分の高炉スラグと結晶成分を混合した模擬試料を作製し，RIR値を変化させてRietveld解析し，高炉スラグの仕込み濃度と定量値間の差が最小値を示したRIR値，3.60を非晶質高炉スラグのRIR値とした．この値を用いてRietveld解析でセメント試料中の非晶質の定量を行ったところ，RIR法で求めた非晶質濃度は内部標準法による定量値とよく一致した．RIR値を基準に用いた粉末X線回折/Rietveld解析は，セメント中の非晶質の定量に有効であることが明らかになった．
