抄録
9桁のランダム数字列(Hebb数字列）を用いた再認実験を行った。実験では、9桁の数字列が、1数字ずつ提示され、数字列の提示直後に、3桁の数字列がプローブとして提示された。被験者は、プローブが学習数字列に含まれていたか否かを判断するよう求められた。各数字の提示時間は、200、600、1200msのいずれかに固定された。実験の結果、再認検査時点とプローブの最初の数字が提示された時点との時間差が増すと共に、プローブに対するヒット率は低下した。このことは、短期記憶の系列再生に関する時間比率モデル（Brown, Neath, & Chater, 2007)の予測に適合する。さらに、我々はヒット率は提示時間が長くなるとともに増加することを見出した。この結果に基づき、系列刺激の短期記憶に関する時間比率と提示時間との相互作用について論ずる。
