アスペクト比の新しい測定方法とそれを用いた板状非晶質シリカの評価

抄録

板状形態の指標としてのアスペクト比を測定する方法として、X線回折法と粒度測定法の組み合わせでは、対象が結晶質物質に限られていた。電子顕微鏡法では厚みを計測できる画像を探すのが困難であった。そこで、非晶質物質に対しても比較的容易に厚みを測定できる新しい方法を開発した。 蛭石を酸処理して得られた板状の非晶質シリカにこの方法を適応することにより、特徴を明らかにすることができ、化粧品や塗料分野などへの応用に結びつけることができた。