エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第17回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 14C-02
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X線を用いた高速バンプ検査手法の開発
*寺本 篤司村越 貴行堀場 勇夫
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キーワード: X線, バンプ, 検査
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抄録
X線を用いて微小バンプを検査する手法を開発した。X線発生量のゆらぎをリアルタイム補正する手段と、高解像度カメラを使用することで高精度化と高速化を図った。その結果、インラインで検査できる速度と精度を実現した。
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© 2003 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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