エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第21回エレクトロニクス実装学会講演大会
セッションID: 16B-06
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光電圧プローブによる高周波電磁界環境下における電圧測定
*邵 文凱稲山 朋宏四蔵 達之鳥羽 章夫
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キーワード: ポッケルス効果
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抄録
高周波電界によりプリント基板に誘起される電圧を高精度に測定する為、ポッケルス効果を利用した光電圧プローブを製作し、GTEMセル内において評価を行った。単体評価の結果、電界(30V/m、)照射下での暗ノイズが低レベル(最大約4mV)である事を確認した。また、マイクロストリップラインへの電界照射に伴う誘起電圧測定の結果、ライン端に最大約30mV(700MHz、30V/m時)の電圧が誘起されている事を確認し、この値が、電磁場解析結果とほぼ一致(誤差5dB以内)したことから、電磁界中において本プローブを用いた電圧測定が可能であることがわかった。
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© 2007 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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