エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第21回エレクトロニクス実装学会講演大会
セッションID: 14B-14
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品質工学の手法を用いた伝送損失のシミュレーション解析
*島田 靖渡辺 悦男
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抄録
高速信号伝送においては、伝送損失の低減が大きな技術的課題となっている。しかし、伝送損失に影響を与えるパラメータには、誘電体材料の比誘電率や誘電正接、導体の導電率や表面粗さ、さらにはライン幅などの設計仕様など、多くの項目が挙げられ、対策も多様である。一方で、シミュレーションを活用することにより、現時点では実測評価が出来ない材料や構造の解析が可能となっている。そこで、品質工学の手法をシミュレーション解析に適用し、効率的に各種パラメータの重要度をランク分けし、誘電特性の与える影響が最も大きいことを明らかにした。
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© 2007 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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