DPI法によるLSI導電性イミュニティ評価技術の開発

秋山 雪治; 井出 正彦; 八木 芳雄; 岩崎 栄治; 堀江 俊晴; 白井 淳一; 西沢 朋美; 中村 篤; 島本 晴夫

doi:10.11486/ejisso.22a.0.3.0

第22回エレクトロニクス実装学会講演大会

セッションID: 17A-02

DOI https://doi.org/10.11486/ejisso.22a.0.3.0

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主催: 社団法人エレクトロニクス実装学会

DPI法によるLSI導電性イミュニティ評価技術の開発

*秋山雪治, 井出正彦, 八木芳雄, 岩崎栄治, 堀江俊晴, 白井淳一, 西沢朋美, 中村篤, 島本晴夫

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キーワード: イミュニティ, EMC, 導電性ノイズ, LSI, 評価

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抄録

DPI(Direct Power Injection）法によるLSI導電性イミュニティ評価技術を開発した。LSIの誤動作判定を自動化したことで、全周波数帯域でのLSI導電性イミュニティレベルの自動測定を可能とした。データ解析ソフト（エクセルマクロ）を用いて、測定系等価回路の検証と特性改善の検討を容易に行える。

責任著者(Corresponding author)

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