エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第27回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 14C-08
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第27回エレクトロニクス実装学術講演大会
ドライバICのスイッチング条件における放射ノイズの評価
*金子 俊之山田 耕三関谷 雅士高梨 哲行
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抄録
ドライバICとしてLCX244を3個使用し、終端には貫通コンデンサ+テブナン終端に接続した。ドライバICの3個が別々の周波数で動作する場合(36/48/60MHz)とドライバIC3個が同じ60MHzの周波数で動作する場合のEMIでは、同じ60MHzの周波数で動作する場合のEMIが悪化することを確認した。また、ドライバICのバッファ4個を動作させる場合(A基板)、ドライバICのバッファ2個(1ピンおき)を動作させる場合(B基板)、ドライバICのバッファ2個(出力ピンがデバイスの中心に近い2つ)を動作させる場合(C基板)のEMIについて評価し、A>B>Cの順にEMIが悪化することを確認した。
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© 2013 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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