エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第32回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 8B2-3
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第32回エレクトロニクス実装学術講演大会
製品の外観検査における畳み込みニューラルネットワークのトレイニングと評価
*中島 彩奈, 田中 雄太, 西谷 一希, 茂木 和弘, 白石 洋一
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© 2018 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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