エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第36回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 25A6-3
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

会議名: The 36th JIEP Annual Meeting

開催日: 2022/03/23 -

第36回エレクトロニクス実装学術講演大会
機械学習を用いた自動外観検査の精度を向上する画像処理手法に関する研究
*李 俊澤, 本田 真吾, 白石 洋一, 茂木 和弘
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会議録・要旨集 認証あり

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