エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第39回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 13D1-3
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第39回エレクトロニクス実装学術講演大会
SMD型・NSMD型BGAはんだ接合部における温度サイクルによる疲労き裂進展の近似式評価
*奥園 倫太郎于 強
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