日本液晶学会討論会講演予稿集
Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490
1999年 日本液晶学会討論会
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2A06 偏光解析法を用いたTNセルのねじれ角/セル厚同時測定によるアンカリングエネルギーの決定法
木村 宗弘中力 徹赤羽 正志真鍋 典子井上 勝佐々木 等菅原 清三
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p. 310-311

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抄録

It is experiemntally demonstrated that selecting a proper wave length of the incident light is required to aviod the Mauguin Minimum condition in which the actual twist angle cannot be estimated by optical measurement. The all of the optical component such as the glass substrates, indium tin oxide electrode films, alignment films and liquid crystals itself play an important role in the optical polarization state of the outgoing light, therefore, we re-examined the measurement method for the evaluation of the anchoring strength and proposed a modified method by using multicolor laser.

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© 1999 日本液晶学会
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