ミリ波導波管プローブによる液晶セルの測定

抄録

本研究では、ガンダイオード（60GHｚ）を用いたミリ波導波管プローブにより、各種材料の測定を行った。ガンダイオードで発生させたミリ波は導波管プローブにより測定物に放射され、その反射波をロックインアンプを用いたミリ波微小信号計測システムで測定した。ITO基板の測定では、抵抗率と反射波の検出電圧の関係について調べ、液晶セルの測定では液晶材料の配向状態の違いによる反射波への影響について検討した。