日本液晶学会討論会講演予稿集
Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490
2012年 日本液晶学会討論会
セッションID: PA37
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PA37 液晶位相シフタを用いた複屈折測定システムにおける測定精度への影響因子の検討(II)(フォトニクス・光デバイス,ポスター発表,2012年日本液晶学会討論会)
*鎌田 佳祐相澤 祐樹中村 保典岡野 桂樹村田 純村口 元尾崎 紀昭本間 道則伊東 良太能勢 敏明
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抄録
Simple and compact birefringence measurement system has been investigated by using a LC cell as a phase shifter. Some LC cells are fabricated with various LC materials, and their voltage-transmission properties are measured by using a polarization microscope system or a measurement system with He-Ne laser. Induced phase shifting error in the calibration process of the driving voltage is investigated by using the measurement results. Furthermore, we actually estimate the birefringence of potato starch during the temperature change.
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© 2012 日本液晶学会
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