放射光X 線散乱測定に基づく高分子薄膜の表面・界面の構造解析

繊維学会誌

Online ISSN : 1884-2259
Print ISSN : 0037-9875

奨励賞受賞者

放射光X 線散乱測定に基づく高分子薄膜の表面・界面の構造解析

石毛亮平

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ジャーナル認証あり

2016 年 72 巻 9 号 p. P-422-P-427

DOI https://doi.org/10.2115/fiber.72.P-422

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© 2016 The Society of Fiber Science and Technology, Japan

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