高感度高分解能イオンマイクロプローブ(SHRIMP-II)のインパクトエネルギーとU-Pbジルコン年代測定

抄録

高感度高分解能イオンマイクロプローブを用いて，二次イオン質量分析計のインパクトエネルギーがU-Pbジルコン年代に与える影響について検証した．インパクトエネルギーを変化させるために，プライマリーエネルギーを10000，9000，8200Vと変化させ，適切な分析条件を整えた．インパクトエネルギーを低下させることで，一次イオンビーム強度が低下し，掘削深度(試料量)が低減する．一方，分析感度は上昇することから，一次イオンビーム強度が低下しても，分析精度は保たれることが明らかとなった．