SIMSを用いた硫化鉱物の局所硫黄2~4同位体比分析高精度化への取り組み

抄録

硫化鉱物にCs⁺イオンビームを照射した場合に生成されるS⁻二次イオンの生成効率は比較的高く、マルチ検出器を搭載した二次イオン質量分析計(SIMS)であれば、20μmから数μm程度の局所領域の高精度硫黄同位体比分析を行うことが出来る(Ushikubo et al., 2014 Chem. Geol.; Nozaki et al., 2021 Geology等)。本発表では、堆積岩や火成岩、硫化鉱物鉱床試料に含有される硫化鉱物から高精度の硫黄同位体比情報を引き出すために取り組んで来た、新しい標準試料の確立とSIMSによる局所硫黄同位体比のテスト分析の成果について報告する。