抄録
以上,受変電設備と近接して使用されるエレクトロニクス機器へ侵入するノイズサージを取り上げて,これに対するイミュニティの向上方法とその評価方法について述べた。
電気•電子装置への半導体素子の適用が進むにつれ,EMI/EMCの問題は今後ますます重要な問題となつていくものと考えられる。対象となるノイズサージの周波数は高くなる傾向にあり,今回取り上げたラインノイズだけでなく,電磁波ノイズも重要になってきている。受変電設備においてもGISの使用によって数10MHzを超すような高い周波数のノイズサージが発生するようになっている。このような高い周波数のノイズサージに対して,半導体素子がどのように応答するのかなど未知な部分も多数残されており,今後の研究が期待される。