撮像管電子ビーム系と容量性残像との因果関係の数値解析

倉重 光宏

doi:10.3169/itej1978.32.217

抄録

低速度電子ビーム走査を用いる撮像管の電子ビーム系の低残像化の可能性を調べる目的で, 走査電子ビーム系とビームアクセプタンスおよび容量性残像との因果関係を調べた. まずビーム系の要因とビームアクセプタンスの関係を明らかにし, 次にビームアクセプタンスから残像を求ある数値計算プログラムを開発して残像との因果関係を調べた. 検討の結果, 緩和現象が残像をもっとも支配し, その他の要因の影響は付加的で小さいことがわかった.

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