認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法

森 由美; 田村 徹; 吉武 良治; 森口 喜代; 棚橋 高成; 辻 智

doi:10.3169/itej.56.1837

映像情報メディア学会誌

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認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法

森由美, 田村徹, 吉武良治, 森口喜代, 棚橋高成, 辻智

著者情報

キーワード: 液晶ディスプレイ, ムラ, 官能検査, 定量化, 主観検査

ジャーナルフリー

2002 年 56 巻 11 号 p. 1837-1840

DOI https://doi.org/10.3169/itej.56.1837

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抄録

測定精度を高めた主観評価実験に基づいて, 液晶ディスプレイの輝度ムラの大きさ・形状とムラの認識限界コントラストとの関係を得た.また, これをもとにして輝度ムラの程度を定量化することができた.ムラの品質水準は, ムラの面積とコントラストの関数として表現でき, 本研究の成果は, 今後, 生産現場での活用が期待できる.