抄録
ソフトウェア無線技術の実現に向けて,アナログ信号を離散時間処理することで,回路の特性が再構築可能となる手法が注目されている.本研究では,CMOSの微細化に伴う漏れ電流の問題を解析し,将来の先端デバイスにも実現可能な漏れ電流を低減させた高信頼性のブートストラップ技術を考案する.これを用いてアナログ離散時間処理への応用を目標とした高線形性・広帯域サンプリング回路を設計し,90nm CMOSプロセスにて試作・測定を行った.本提案回路は広帯域(500MHz-5GHz),低電圧(0.5V-1.2V)において高い線形性を実現し,パワースケーラブルな動作を示した.また,従来回路との性能比較検証を行っている.
