超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集
Online ISSN : 2433-1414
セッションID: F1
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F1 シリコン・トランジスタ素子の非破壊・内部観察(超音波非破壊評価)
竹野下 寛, 田淵 正行
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© 1992 特定非営利活動法人超音波エレクトロニクス協会
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