単眼視ステレオ計測を用いた端子リードの欠陥検出法

自動制御連合講演会講演論文集

第49回自動制御連合講演会

セッションID: os17

DOI https://doi.org/10.11511/jacc.49.0.47.0

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主催: システム制御情報学会, 計測自動制御学会, 日本機械学会, 化学工学会, 精密工学会, 日本航空宇宙学会

共催: 神戸大学工学部

単眼視ステレオ計測を用いた端子リードの欠陥検出法

*渡辺隆, *草野洸, *藤原孝幸, *輿水大和

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キーワード: 端子リード, 半田付け性欠陥, 単眼視ステレオ計測, 画像処理, 計測アルゴリズム

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© 2006

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