日本マイクログラビティ応用学会誌
Print ISSN : 0915-3616
浮遊炉への期待ー物性測定の面から―半導体融液を例として―ー
日比谷 孟俊
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ジャーナル オープンアクセス

1996 年 13 巻 1 号 p. 5-

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抄録
In order to improve silicon crystal quality, better understanding of heat and masstransfer process during crystal growth through numerical modelling is indispensable. More accurate thermophysical property data are required for numerical modelling. Combining levitation and microgravity, which can supply a contamination-free and under-cooled condition, is receommended as a novel tool to supply a lot of missing thermophysical property data for undercooled melts.
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© 1996 日本マイクログラビティ応用学会
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