抄録
この研究は、テスト容易化を目的としたアナログLSI回路を設計、評価したものである。テスト容易化設計の中でもBOST(Built Out Self Test)技術に着目し、電圧指定電流測定(VSIM)をLSI内部で実行するCMOSアナログ回路を設計し、試作チップの評価を行った。VSIM(Voltage sourced current measurement)とは、測定対象に指定した電圧をかけ、そのとき流れる電流を読み取るものである。rail to railオペアンプを用いており、試作チップにおいてVSIMの電圧指定は3.3v rail to rail動作することを確認し、電流測定精度は補正後±10μAとなった。
