エポキシ中ボイドで生じる部分放電劣化

抄録

エポキシ樹脂等の絶縁体でモールドされた固体絶縁機器では，製造時の注型作製過程において樹脂内にボイドが生じてしまうことがある。ボイド内部での部分放電の挙動及び発生から故障に至るまでの過程を明らかにすることは，固体絶縁モールド機器の安全・長寿命設計を行うために重要である。そこで本研究では，電力機器のエポキシ樹脂部分にボイドがあった場合に，部分放電によりボイドが成長し，最終的に短絡するまでの寿命特性を明らかにすることを目的とし，ボイド含有エポキシ樹脂製テストピースにおいて，部分放電による浸食速度を調べた。本報では，ボイドが絶縁破壊に至るまでの過程や放電頻度や放電電荷量の経時変化について述べる。