主催: 電気・情報関係学会九州支部連合大会委員会
共催: 佐賀大学
会議名: 2021年度電気・情報関係学会九州支部連合大会
回次: 74
開催地: オンライン開催(大会本部:佐賀大学本庄キャンパス)
開催日: 2021/09/24 - 2021/09/25
本研究では,従来の画像検査システムでは検知が難しかった複雑な構造を有する部品上のキズや汚れの検知を目標に,高次局所自己相関特徴量に基づく画像検査システムを提案する.従来の典型的な画像検査システムは,正常品のマスター画像とピクセル毎の比較を実施するため,撮影位置の僅かなズレが異常値となり,真の異常ピクセルの検出が難しくなる場合があった.提案手法では,位置不変性や画像加法性という優れた特長を有する高次局所自己相関特徴量に基づいて画像検査を行うことで,旧来の画像検査システムでは検知が難しかった,僅かなキズや汚れを検知できることが明らかになった.