腐食研究のための表面分析技術の現在の状況を要約した．腐食反応で生成した腐食生成物の測定には，in-situ（その場）測定が望まれる．光，つまりガンマ線から赤外光まで電磁波を使う測定では，工夫が必要であるが，in-situ測定がなされてきている．電磁波の性質により，窓材の選択や窓材の試料表面との距離などの調整が必要である．X線光電子分光（XPS）やオージェ電子分光（AES）などの電子分光法では，in-situ測定はできないが，元素分析，元素の状態分析，微少部分析などの特徴があるので，有用である．将来的には，表面増強ラマン散乱（SERS）と走査型プローブ顕微鏡（SPM）を結び付けたチップ増強ラマン散乱（TERS）の使用が腐食反応のin-situ測定に利用できる可能性がある．
