特集 電子線で何が観測できるか
走査透過電子顕微鏡像観察による結晶構造解析
2019 年 61 巻 1 号 p. 15-22
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2019 年 61 巻 1 号 p. 15-22
Crystal structure analysis using scanning transmission electron microscopy（STEM）is briefly reviewed. The various imaging techniques, such as bright field（BF）, annular BF（ABF）and annular dark-field（ADF）are presented. Recent progress in STEM imaging is also described.
