日本結晶学会誌
Online ISSN : 1884-5576
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70周年記念ミニ特集(2) 未来編
電子線が拓く結晶学の未来
阿部 英司
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2020 年 62 巻 4 号 p. 248-252

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抄録

I will describe the future direction of electron crystallography, by focusing on how electron beams contribute uniquely for atomic structure determinations. Both for electron diffraction and microscopy, the key lies on how we make the best use of dynamical scattering effects, which are significant for electrons compared with other probes including X-ray.

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© 2020 日本結晶学会
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