日本作物学会講演会要旨集
第230回日本作物学会講演会
会議情報

主催: 日本作物学会

遺伝子・品質・環境ストレス・リモートセンシング
イネ高温登熟メタボローム～マルチオミックス解析による米品質制御遺伝子の推定
*山川 博幹, 羽方 誠, 寺尾 富夫
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キーワード: イネ, 高温登熟, メタボローム, 遺伝子発現
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p. 124

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