日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 24pXR-13
会議情報
24pXR-13 イオン照射したSiの陽電子消滅同時計数ドップラー幅測定(24pXR 格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))
赤羽 隆史, 藤浪 真紀, 澤田 嗣郎
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