日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 27pWG-10
会議情報
27pWG-10 イオン照射した薄膜の中性子反射率測定による構造評価の検討(27pWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))
相澤 一也, 岩瀬 彰宏, 曽山 和彦
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