27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 27aRE-7

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.64.1.4.0_934_1

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27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

大島永康, 鈴木良一, 大平俊行, 木野村淳, 鳴海貴允, 上殿明良, 岡壽崇, 藤浪真紀

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