28pEG-8 NMRを用いた入れ子型複合量子ゲートのエラー耐性評価実験(28pEG 量子エレクトロニクス(エンタングルメント・量子コンピューター・デコヒーレンス),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 28pEG-8

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.68.1.2.0_236_2

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28pEG-8 NMRを用いた入れ子型複合量子ゲートのエラー耐性評価実験(28pEG 量子エレクトロニクス(エンタングルメント・量子コンピューター・デコヒーレンス),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

坂東将光, 市川翼, 近藤康, 中原幹夫

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