X線吸収分光を用いたプルシアンブルー類似体の電子状態研究

抄録

6配位型鉄シアノ錯体を含むプルシアンブルー類似体の電子状態の解明を目的とし、Photon FactoryにおいてFe L-edge及びK-edge X線吸収分光測定を行った。L-edgeとK-edgeでの吸収スペクトルを比較することにより、新たに2p→σ^*^励起、1s→π^*^励起、1s→σ^*^励起を同定した。また、6配位型鉄シアノ錯体に連なる遷移金属とシアノ錯体の窒素の間の結合距離が、鉄シアノ錯体の電子状態に大きな影響を与えていることが分かった。