シンチレーションフィルムによる表面汚染測定法の開発

抄録

ニュートリノを伴わない二重β崩壊探索実験KamLAND-Zenや暗黒物質探索など極低放射能環境が求められる稀事象観測では検出器表面に付着した放射性物質が問題となっている。表面付着の判定にはα線測定が有効である。本講演では、片側のみに感度をもたせたシンチレーションフィルムにより対象物表面からのα線を観測し、その発光から汚染レベルを判定する。効率的な観測手法の確立を不純物除去技術を高めることを目指す。