遍歴電子強磁性体CrAlGeの磁性

抄録

CrAlGe多結晶の合成に成功した。X線回折実験の結果、斜方晶TiSi2型構造であることが判明した。磁化測定の結果、CrAlGeは、キュリー温度83Kの弱い遍歴強磁性体であり、量子揺らぎを取り入れたスピンの揺らぎ理論でよく説明される。圧力を印加した結果、磁化とキュリー温度は減少した。