主催: 一般社団法人日本物理学会
会議名: 2017年度日本物理学会第72回年次大会
開催日: 2017/03/17 - 2017/03/20
強相関4f化合物が低温で示す電子物性の起源を解明するためには、4f基底状態の決定が重要である。我々は基底状態の異なる2つの立方晶Pr化合物PrIr_2_Zn_20_およびPrB_6_に対して異方的な4f電荷分布を反映した角度分解Pr 3d内殻光電子スペクトル線二色性の観測に成功した。同時に電子間クーロン/交換相互作用の異方性を取り入れた結晶場中のイオン模型から実験スペクトル及び線二色性を再現することに成功し、Pr化合物においても角度分解内殻光電子線二色性から4f基底状態を決定できることを実証した。