日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 20pD41-2
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電流電圧特性と表面増強ラマン散乱の同時計測による2置換ベンゼン単分子接合の界面構造の決定
鈴木 翔金子 哲木口 学
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抄録

単分子接合は分子素子への応用から近年注目を集めている。しかし、単分子接合の物性を大きく左右する電子状態と原子構造を明らかにした例は少ない。本研究では、単分子接合の界面構造を決定し、印加電圧が界面構造に与える影響を解明することを目的とした。実験は、単分子接合の電流電圧特性-表面増強ラマン散乱同時計測を室温大気中で行った。結果、2置換ベンゼン単分子接合が持つ吸着構造の異なる複数の伝導状態が観測された。さらに、印加電圧の変化に応じて伝導軌道が変調していることが明らかになった。

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© 2017 日本物理学会
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